Оборудование
1. Реометрическая система MCR-301, фирма Anton Paar (Австрия), 2007 г. Предназначена для исследования вязкоупругих характеристик полимерных растворов и расплавов.
- Диапазон анализируемых вязкостей: 10-2÷ 106Па·с - Температуры: -150 ÷ 600 °С - Диапазон частот: 10-4÷ Гц Для исследования вязкоупругих свойств полимерных материалов. - Режимы деформации: Трехточечный изгиб; Одно-/двухплечевой изгиб; Сдвиг; Сжатие/пенетрация; Растяжение - Температурный интервал: -170°C ÷ 600°C - Скорости нагрева и охлаждения: 0.01 K/мин ÷ 20 K/мин - Время охлаждения: 10 мин (20°C ÷ -150°C) - Диапазон частот: 0.01 Гц... 100 Гц - Диапазон определяемых значений модуля упругости (E’): 10-3... 106МПа - Диапазон измерений тангенса угла механических потерь tan δ: 0,00006 ÷ 10 3. Дифференциальный сканирующего калориметр DSC 204 F1 Phoenix, фирма NETZSCH (Германия), 2007 г. Предназначен для исследования температур переходов и тепловых эффектов в полимерных материалах. - Температуры: -180 ÷ 700 °С - Скорости нагрева: 0.001 ÷ 100 °/мин - Максимальная скорость охлаждения: 200 °/мин 4. Термогравиметрический анализ TG 209 F1 Iris, фирма NETZSCH (Германия), 2006 Предназначен для исследования широкого круга термостимулируемых процессов в полимерных материалах. - Разрешение: 107граммов - Температуры: - 10 ÷ 1000 °С - Скорости нагрева: 0.001 ÷ 100 °/мин - Температуры - до 400 °С Фотографии: Предназначена для механических испытаний материалов в режимах сжатия, растяжения, изгиба, для циклических, релаксационных и адгезионных испытаний. - Диапазон температур: от комнатной до 600 °С - Диапазон нагрузок: 0.001 Н ÷ 10 кН - Диапазон скоростей деформирования образцов: 1 мкм/мин ÷ 1 м/мин.
1. Рентгеновский дифрактометр SEIFERT XRD-3003 TT (General Electric Company) для структурного анализа с IBM PC совместимым интерфейсом и программным комплексом RAYFLEX для обработки результатов измерений. Двухкруговой гониометр MZ VI E с возможностью работы в симметричной или ассиметричной Theta/Theta конфигурации со сцинтилляционным счетчиком импульсов Мин. шаг сканирования: 0.0005° Макс. диапазон углов сканирования: ω (со стороны трубки) = 0° - θ (со стороны счетчика) = 165° ω (со стороны трубки) = 165° - θ (со стороны счетчика) Стабилизированный источник питания ISO-DEBYEFLEX 3003 U = 2 - 60 kV, I = 2 - 80 mA, макс. W = 3.5 kW, точность ±0.01% при ±10% флуктуациях напряжения питающей сети
(ОДО «Микротестмашины», Беларусь) Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп NT-206 представляет собой атомно-силовой микроскоп в комплексе с аппаратными и программными средствами, необходимыми для измерения и анализа микро- и субмикрорельефа поверхностей, объектов микро- и нанометрового размерного диапазона, их микромеханических и других свойств с высоким разрешением.
Размер матрицы сканирования до 512x512 точек Латеральное разрешение (плоскость XY): 1–5 нм (в зависимости от жесткости поверхности образцов) Вертикальное разрешение (направление Z): 0,1–0,5 нм (в зависимости от жесткости поверхности образцов)
|